JC-3165大规模数模混合信号集成电路测试系统是国内生产的 最档次的数模混合集成电路测试系统 ，其模拟电路的测试性能及 可测器件的范围达到了目前国际最gao水平，可测试高达 24 位的 AD 及高速 AD、DA、高速运算放大器、PWM、双端口 RAM，单片机、 CPU 等芯片。3165（及其纯数字型号-3162）是目前国内生产的真正 可在 IC 生产测试中以 5MHz 以上测试（图形）速率测试数字 IC 芯片 的测试系统。该测试系统可快速、准确、全面地对 TTL、ECL、MOS 工艺制造的 SSI、MSI、LSI 及 VLSI 器件进行全参数测量(直流参数、 交流参数动态功能)和分析测试。该测试系统是在全面考虑了国内各 方面的测试需求后研制开发的高档数模混合集成电路测试系统 。其 高度的稳定性、可靠性和可维护性及易学易用使得它特别适合国内 器件生产厂和各类电子整机厂家的质量检测部门进行生产测试 (包括 中测和成品测试)、入厂检验、质量评估和可靠性分析测试 。 3165 大规模混合信号集成电路测试系统根据器件的特点提供标准的测量模式，运行于 WindowsXP 下的填表式菜单（数字 IC） 环境及简单易学的 C（C++）语言等编程环境，可满足不同层次的 用户使用。运行于 WinXP 下的填表式菜单等编程环境，简单易学； 基于 C（C++）语言高级测试语言的编程平台操作灵活 ，使测试人 员能够快捷地开发各类器件测试程序并进行器件测试 。完善的系统 自检和校准工具，可通过 GPIB 接口外接高精度数字电压表等通用测 量仪器仪表对系统自动进行精度校准 ，并可由此跟踪国家二级计量 标准。 产品详情请咨询 ： 北京太速科技 电话：15084122580 何小燕 QQ 2046099386