FT-361超低阻双电四探针测试仪 一、概述：本品为解决四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率， 小可以测试到1uΩ方阻值，是目前同行业中能测量到的 小值，采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购. 三、参数资料 1.方块电阻范围：10-6～2×102Ω/□ 2.电阻率范围：10-7～2×103Ω-cm 3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100µA. 4.电流精度：±0.1%读数 5.电阻精度：≤0.3% 6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率. 7.测试方式: 双电测量 8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W 9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果） 10.选购功能: 选购1.pc软件； 2.方形探头； 3.直线形探头； 4.测试平台 11.测试探头：  探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针