场发射扫描电子显微镜/能谱仪检测 聚仪网供检测名称:场发射扫描电子显微镜/能谱仪检测价格:100.00 品 牌：FEI Electron Optics B.V.型 号：Quanta 400 FEG；CENESIS XM2 SEM EDS所 在 地： 上海市 仪器详情： 详细信息与指标： 制造厂商： FEI Electron Optics B.V. 仪器编码： W1031 生产国别： 捷克 分类编码： 010102 购置日期： 2009-11-07 规格型号： Quanta 400 FEG；CENESIS XM2 SEM EDS 功能/应用范围：以很高的分辨率对物质微观形貌进行显微成像分析；测定物质结构；在物质微观形貌及结构进行分析的同时，对物质成分进行微区分析，微区尺寸可为纳米尺度。 主要附件：能谱仪 主要技术指标：分辨率二次电子(SE)成像：高真空模式：30kV时 1.2 nm；1kV时 3.0nm 低真空模式：30kV时 1.5 nm；3kV时 3.0nm ESEM？环境真空模式: 30kV时 1.5 nm背散射电子(BSE)成像：30kV时 2.5 nm放大倍数高真空模式: 12x - 1,000,000x低真空模式: 12x - 1,000,000x 技术特色：高分辨率，观察形貌分析结构。 服务实例：来样为船用花键轴，在使用时间约48小时发生断裂，浙江汉力士船用推进系统股份有限公司上 海分公司委托我中心对花键轴进行断裂原因分析。 断裂花键轴断裂位置为光轴区域，该区域无台阶及加工R角等应力集中，同类型花键轴的一直 使用从未发生过如此早期断裂，可以排除其设计问题；花键轴在断裂后一直运转，断面严重磨 损，给检测带来 难度，本案研究的关键是通过分析判断确定花键轴早期断裂的原因。 通过宏观观察，化学分析，力学性能检验、扫描电镜断口分析，金相检验等分析手段，找到花 键轴材料本身是否存在缺点，加工使用 服务信息接待时间（工作日）：周一到周五收费标准（元/样品）：800仪器联系人：沙菲商家信息： 商家名称： 上海材料研究所 信 誉：★★★★★ 资 质： 详情见聚仪网：http://www.juyitest.com/shop/frontend/web/index.php?r=site%2Fgoodinfo&id=573 联系方式：