产品介绍
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名称:Tecnai F30场发射高分辨透射电子显微镜
型号:Tecnai G2 F30 S-TWIN
制造厂家:美国FEI公司
主要附件:
Gatan电子能量过滤系统(GIF)
EDAX X-射线能谱仪
STEM-HAADF高角环形暗场探头
Gatan894Ultriscan相机
Gatan994Ultriscan相机
Lorentz 电磁透镜
主要技术指标:
加速电压:300KV 电子枪:肖特基场发射电子枪
分辨率: 点分辨率:0.205 nm 线分辨率:0.102 nm
信息分辨率:0.14nm HR STEM分辨率:0.16nm
EELS分辨率:0.65eV EDX分辨率:136eV
放大倍数: TEM 模式 60X—1000KX
HAADF STEM模式 200X—100M
Tecnai G2 F30 是一个真正多功能,多用户环境的 仪器。它将各种透射电镜技术(包括TEM、HRTEM、STEM、HRSTEM、电子衍射、EFTEM、EDX、EELS和Lorentz透镜等)一体化,形成强大的分析功能。除了具有200kV的各种优点外,Tecnai G2 F30提供了300kV的加速电压,可分析更厚、更具挑战性的样品。Tecnai G2 F30可以在原子尺度的分辨率下对材料进行高质量、高稳定性的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析,及各种材料微区化学成分的定性和定量检测。
收费标准:
项目
价格
备注
无机氧化物纳米材料形貌观察
360元/样
含制样、耗材,高分辨,能谱+100元,电子衍射+100元
磁性无机氧化物纳米材料形貌观察
500元/样
含制样、耗材,高分辨,电子衍射+150元,能谱+150元
金属、陶瓷样品透射电镜观察
360元/样
不含制样,高分辨+100元,能谱+100元,电子衍射+100元
磁性金属、陶瓷样品透射电镜观察
400元/样
不含制样,高分辨+15