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分析金属化薄膜电容器的主要失效
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金属化薄膜电容是我们生活中常见常用的电容器之一,金属化薄膜电容器拥有自愈性的的优越性能而被大家熟知,本文谈谈两个关键的点,造成薄膜电容的失效原因有哪些,希望本文的内容能帮助到大家,一起往下看吧! 1.局部放电造成 由于加工过程中介质中存在微小气隙,金属化电容器“过度自愈”造成气隙,导致金属化薄膜电容器在高电压作用下产生局部放电,电容器内部会迅速大量的热,来不及散发,又造成周围介质的进一步破坏,局部放电加剧,形成恶性循环。 2.损耗引起的电容器温升 一个理想的电容器在工作时没有量耗散,但由于介质损耗和电容器内部金属电阻和接触电阻的存在,使电容器呈现明显的组态特性。在有负载时导致金属化薄膜电容器发热,并经电容器外表将热量散到周围环境中去,从中间到外表之间建立一个温度梯度,当发热量小时,发散热平衡;当发热量大时,发散热不能平衡,电容器温度升高,导致失效,引起外壳膨胀、变形、开裂、膜熔融成团块,严重时会发现燃烧等现象。为此,损耗是发热的根源,造成金属化薄膜电容器失效的主要因素 如您有技术上的疑问可联系我们,竭力为您解决问题。东莞市智旭电子制造安规电容,陶瓷电容,独石电容,压敏电阻,薄膜电容,更多品质电容尽在JEC。可以免费提供样品测试!以上资讯来自东莞市智旭电子有限公司研发部提供,更多资讯请大家移步至网站中智旭资讯中获取。
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