工厂介绍 谷易电子生产qfn28下压弹片测试座，同时生产其他IC老化测试夹具治具 产品简介 A、产品用途:编程座、测试座，对QFN28的IC芯片进行老化、测试 B、适用封装:QFN28引脚间距0.5mm C、测试座:QFN28-0.5 D、特点:采用U型顶针，接触更稳定，寿命长 E、我司可提供规格书（布板图），PDF档\CAD 规格尺寸 A、型号:QFN-28-0.5 B、引脚间距(mm):0.5 C、脚位:28 D、芯片尺寸:5*5mm