谷易电子生产的该QFN产品系列主要应用于新能源汽车车规芯片老化测试用， 适用于电源转换芯片老化测试、动力分配传感器芯片老化测试、电源管理芯片老化测试，包含汽车EMC芯片老化测试、汽车气压控制芯片老化测试、汽车DSP控制器芯片老化测试、汽车液位检测设备芯片老化测试、汽车ECU芯片老化测试、压力传感器芯片老化测试、汽车ASC芯片老化测试，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试jia具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等 BGA676测试架参数：676pin 0.5间距，31×31mm 频率：27M 为节省您宝贵的时间，如有不清楚的地方可以对话窗口直接咨询业务工程师或者留下您的联系方式，工程师会及时的和您联系