苏州工业园区浩高电子科技有限公司
主营产品:老化测试,无损检测,X-Ray,超声波焊线机,LED芯片测试
首页
企业介绍
产品展示
新闻中心
联系我们
您当前的位置:
首页
>
产品展示
>>
老化测试系统
产品展示
Products
老化测试系统
失效分析
X射线系统
环境可靠性试验
X-Ray无损检测
老化测试系统
联系人:
林先生
QQ号码:
1012123899
电话号码:
0512-87775859
手机号码:
13771787343
Email地址:
sales@higotech.com
公司地址:
江苏省苏州市星汉街5号B幢#05-02
产品介绍
老化测试是研究产品寿命特征的方法,这种方法可在实验室模拟各种使用条件来进行。老化试验是可靠性试验中重要基本的项目之一,它是将产品放在特定的试验条件下考察其失效(损坏)随时间变化规律。 通过老化(寿命)试验,可以了解产品的寿命特征、失效规律、失效率、平均寿命以及在寿命试验过程中可能出现的各种失效模式。如结合失效分析,可进一步弄清导致产品失效的主要失效机理,作为可靠性设计、可靠性预测、改进新产品质量和确定合理的筛选、例行(批量保证)试验条件等的依据。 产品特点: 1.将耗时的功能测试移到老化中可以节约昂贵的高速测试仪器的时间。如果老化后只进行参数测试及很少的功能测试,那么用现有设备可测试更多器件,仅此一点即可抵消因采用老化测试方案而发生的费用。 2. 达到预期故障率的实际老化时间相对更短。过去器件进行首批老化时都要先经过168小时,这是人们期望发现所有早期故障的标准起始时间,而这完全是因为手头没有新器件数据所致。在随后的半年期间,这个时间会不断缩短,直到用实验和误差分析方法得到实际所需的老化时间为止。在老化同时进行测试则可以通过检查老化系统生成的实时记录及时发现产生的故障。尽快掌握老化时间可提高产量,降低器件成本。 3. 及时对生产工艺作出反馈。器件故障有时直接对应于某个制造工艺或者某生产设备,在故障发生时及时了解信息可立刻解决可能存在的工艺缺陷,避免制造出大量不合格产品。 4. 确保老化的运行情况与期望相符。通过监测老化板上的每个器件,可在老化一开始时就先更换已经坏了的器件,这样使用者可确保老化板和老化系统按预先设想的状况运行,没有产能上的浪费。
相关推荐
查看更多产品
X-Ray无损检测
X射线系统
失效分析
环境可靠性试验
进入官网
关于我们
产品展示
联系我们
CopyRight © 版权所有: 苏州工业园区浩高电子科技有限公司