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深圳市谷易电子有限公司

主营产品：芯片测试座,芯片老化座,编程烧录座,芯片测试夹具,弹片微针模组

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QFN56_老化座_0.4间距_芯片测试座_翻盖编程座

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产品介绍

QFN56老化座_0.4间距_芯片测试座_翻盖编程座_IC550-0564-010-G 规格尺寸型号:QFN-56-0.4 引脚间距(mm): 0.4 脚位:56 适配芯片尺寸:7*7mm 产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN56的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN56引脚间距0.4mm 测试座:QFN56-0.4 特点:采用U型顶针，接触更稳定