深圳市谷易电子有限公司
主营产品:芯片测试座,芯片老化座,编程烧录座,芯片测试夹具,弹片微针模组
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BGA606(1504)-0.5模块翻盖老化座
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产品介绍
支持定制各类模块测试座 模块测试治具 wifi模块 蓝牙模块测试座 邮票孔芯片测试治具等等 一件起定,最终价格根据模块实际参数尺寸及测试要求而定。 详细请询在线客服!! 产品特点: ◆采用手动翻盖/双扣式结构,操作方便; ◆上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位; ◆探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损伤锡球; ◆高精度的定位槽和导向孔,保证IC定位准确,测试效率高; ◆测试频率可达9.3GHz; ◆用途:集成电路应用功能验证测试; ◆可根据用户要求定做各种阵列的socket ◆有翻盖式结构和双扣结构两种方式可供选择,操作方便; ◆上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位; ◆探针的特殊头形突起能刺破锡球的氧化层,接触可靠,而不会损伤锡球 ◆用途:集成电路应用功能验证测试 ◆可根据用户要求定做各种阵列的socket