深圳市谷易电子有限公司
主营产品:芯片测试座,芯片老化座,编程烧录座,芯片测试夹具,弹片微针模组
258联盟会员
您当前的位置: 首页 > 产品展示>>BAG芯片测试座
产品展示 Products
BAG芯片测试座
  • 联系人:董小姐
  • QQ号码:743533473
  • 电话号码:0755-83587595
  • 手机号码:13823541376
  • Email地址:743533473@qq.com
  • 公司地址:广东省深圳市宝安区福永街道稔田旧路10号
产品介绍
工厂介绍 谷易电子生产定制BGA64-0.64_5.232*4.458翻盖合金探针测试座,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector/IMU socket等。 谷易电子还生产QFN产品系列主要应用于新能源汽车车规芯片老化测试用, 适用于电源转换芯片老化测试、动力分配传感器芯片老化测试、电源管理芯片老化测试,包含汽车EMC芯片老化测试、汽车气压控制芯片老化测试、汽车DSP控制器芯片老化测试、汽车液位检测设备芯片老化测试、汽车ECU芯片老化测试、压力传感器芯片老化测试、汽车ASC芯片老化测试,